室温下,对于硅、锗、砷化镓来说,可以认为本征半导体的费米能级位于()
对于P型半导体,满足以下()
EF=Ei;n0=p0
EF>Ei;n0>p0
EF<Ei;n0<p0
EF<Ei;n0>p0
当电子与空穴浓度相等时,导带电子的电荷密度(-q)n同价带空穴的电荷密度(+q)p大小相等,符号相反,半导体处于电中性状态,通常称这种关系为电中性条件或电中性方程。
本征半导体的载流子浓度与()有关
杂质浓度
温度
半导体的能带结构
杂质类型
ni2=n0p0仅适用于本征半导体,非简并的杂质半导体不适用。
ni2 =n0p0的意义为()
可作为判断半导体材料是否达到热平衡的判据
不可作为判断半导体材料是否达到热平衡的判据
热平衡条件下,若已知ni和一种载流子浓度,则可以利用该式求出另外一种载流子浓度
热平衡条件下,若已知ni和一种载流子浓度,则可以利用该式求出另外一种载流子浓度,只适用于本征半导体
制作半导体器件用()
本征半导体
高度补偿杂质半导体
含有一定杂质的半导体材料
不同半导体,Eg小对应的器件工作温度高
同种半导体,掺杂大,对应的ni大,极限温度高,所以高掺杂不利于器件高温工作。